一.ESD的危害
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1.硬件损坏;
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2.自动关机,程序混乱;
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3.死机,程序混乱,要通过人为干预才能复位;
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4.死机,程序混乱,无法进行复位。
静电对器件造成的损坏有显性和隐形两种,隐形损坏在当时看不出来,但会使期间变得更脆弱,在过压、高温等条件下极易损坏。
ESD两种主要的破坏机制是:由ESD电流产生的热量导致设备的热实效;由ESD感应出的过高电压导致结缘击穿。除容易造成电路损坏外,静电放电也极易对电子电路造成干扰。静电放电对电子电路的干扰主要有两种方式,一种是传导干扰,一种是辐射干扰。
通过静电放电试验的原则有三点:
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1.防止静电荷积累,外壳直接接地屏蔽:外壳的导电部分(金属部分,导电或是喷导电漆的部分)需要接机壳地。外壳的金属部分如果无法接机壳地时需距离电路板(或者是通过孔洞到电路板)2cm以上。
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2.外壳表面绝缘处理,使静电放电无法发生;
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3.使静电放电路径处于受控状态,远离敏感源;
总之,ESD设计壳体上需要注意很多地方,首先是尽量不要让ESD进入壳体内部,最大限度的减弱其进入壳体的能量。对于进入壳体内部的ESD尽量将其从GND导走,不要让它危害电路的其他部分。壳体上的金属饰物使用时一定要小心,因为很可能会带来意想不到的效果,需要特别注意。